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產(chǎn)品名稱:

土壤智能粒度測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品類(lèi)別: DPC-1512 更新時(shí)間: 2024-11-28
土壤智能粒度測(cè)量?jī)xDPC-1512符合最新土壤污染狀況調(diào)查及相關(guān)監(jiān)測(cè)評(píng)估中用于樣品制備粒度質(zhì)量檢查的智能粒度測(cè)量。采用PULUODY GROUP第七代雙激光窄光檢測(cè)器技術(shù),參照ISO13320、ISO13321等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),根據(jù)光子相關(guān)光譜法、全量程動(dòng)態(tài)光散射等原理生產(chǎn)的全新激光粒度測(cè)試設(shè)備。

產(chǎn)品概述

  申貝科學(xué)儀器
 
  土壤智能粒度測(cè)量?jī)xDPC-1512符合最新土壤污染狀況調(diào)查及相關(guān)監(jiān)測(cè)評(píng)估中用于樣品制備粒度質(zhì)量檢查的智能粒度測(cè)量。采用PULUODY GROUP第七代雙激光窄光檢測(cè)器技術(shù),參照ISO13320、ISO13321等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),根據(jù)光子相關(guān)光譜法、全量程動(dòng)態(tài)光散射等原理生產(chǎn)的全新激光粒度測(cè)試設(shè)備。
 
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粒度分析動(dòng)態(tài)范圍寬,重復(fù)性好;
 
  智能化程度高,響應(yīng)速度快,測(cè)量精度高,穩(wěn)定性和重復(fù)性好特點(diǎn);
 
  整機(jī)可進(jìn)行1nm~2000μm間任意進(jìn)行調(diào)整與測(cè)試,打破常規(guī),定義創(chuàng)新;
 
  儀器一次采樣可支持濕法檢測(cè)和干法檢測(cè);
 
  土壤智能粒度測(cè)量?jī)x每測(cè)1個(gè)樣品2分鐘內(nèi)完成,結(jié)果由電腦自動(dòng)記錄保存、查看打印方便。
 
  全中文/英文操作菜單,簡(jiǎn)單實(shí)用;
 
  計(jì)量機(jī)構(gòu)可進(jìn)行終身第三方計(jì)量校準(zhǔn)。
 
  儀器介紹:
 
  樣品在測(cè)試池內(nèi)流動(dòng)的時(shí)間短,避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)聚。
 
  清洗操作簡(jiǎn)單,可實(shí)現(xiàn)一體化功能。
 
  采用一次成型工藝,結(jié)構(gòu)緊湊合理,集成測(cè)量單元和取樣單元一體化。
 
  外形美觀大方,使用維護(hù)方便;
 
  降低干擾,電氣與液路相分離,使儀器的電氣穩(wěn)定性更優(yōu)。
 
  采用串行數(shù)據(jù)傳輸方式,可以方便組成粒度測(cè)試系統(tǒng)。
 
  測(cè)試軟件兼容微軟、蘋(píng)果、安卓等系統(tǒng),界面友好、操作簡(jiǎn)便。
 
  可實(shí)現(xiàn)一鍵“自動(dòng)測(cè)試”快捷鍵功能。
 
  可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)完成測(cè)量參數(shù)選定、對(duì)中、背景測(cè)量、濃度調(diào)整、信號(hào)采樣、數(shù)據(jù)分析、給出報(bào)告、系統(tǒng)清洗等功能。
 
  具有中、英文20種不同的報(bào)告單格式,內(nèi)容包括累計(jì)粒度分布數(shù)據(jù)與曲線、區(qū)間粒度分布數(shù)據(jù)與直方圖、典型粒徑值如D3、D10、D25、D50、D75、D80、D90、D97、D100等。
 
  納米測(cè)試:
 
  所有納米材料研究、生產(chǎn)與使用等行業(yè)干粉、乳液的粒度分布測(cè)試。
 
  微米測(cè)試:
 
  各種行業(yè)干粉、乳液等的粒度分布測(cè)試。
 
  通用測(cè)試:
 
  土壤粒度、化工材料、電子材料、電池材料、造紙、冶金、陶瓷、建材、水煤漿、化妝品、磨料、醫(yī)藥、涂料、水泥、食品、農(nóng)藥、碳酸鈣、高嶺土、金剛石、氧化鋁、稀土、催化劑、硅灰石、電氣石、云母、重晶石、鋁粉、鐵粉、鎂粉、鉬粉、銅粉、鋅粉、發(fā)泡劑、石墨、顏料等各種行業(yè)干粉、乳液等的粒度分布測(cè)試。
 
  技術(shù)參數(shù):
 
  測(cè)試范圍:1nm~2000μm(可在納米和微米測(cè)試中選擇相應(yīng)傳感器)
 
  納米測(cè)試:測(cè)試1nm~10000nm;5nm~10000nm;(二選一)
 
  微米測(cè)試:測(cè)試0.02μm~2000μm;0.05μm~2000μm;0.1μm~3000μm;(三選一)
 
  分段量程:選擇納米段、微米段或全量程段測(cè)試。
 
  檢 測(cè) 器:第七代雙激光窄光檢測(cè)器,穩(wěn)定性好,使用壽命長(zhǎng)。
 
  光路設(shè)計(jì):符合ISO13320、ISO13321等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)原理
 
  測(cè)試精度:微粉級(jí)D50測(cè)試重復(fù)性誤差≤±1% (國(guó)家標(biāo)樣)。
 
  進(jìn)樣系統(tǒng):配有微量靜態(tài)樣品池、循環(huán)進(jìn)樣池2種,可選擇使用。
 
  測(cè)試軟件:可在Windows系統(tǒng)下運(yùn)行(中英文版二選一或二選二)。
 
  測(cè)試結(jié)果:Dx、平均粒徑和比表面積等數(shù)據(jù)及粒度分布和曲線圖。
 
  結(jié)果輸出:顯示、保存和打印,也可以轉(zhuǎn)換為圖像文件和文本文件。
 
  工作電源:AC220V ±10% 50Hz 功率:300W
 
  環(huán)境要求:使用環(huán)境應(yīng)清潔,溫度:0-40℃
 
  隨機(jī)配置:
 
  儀器主機(jī)、資質(zhì)文件、工作站、標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)粒子等
 
 

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